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  • SP-078-X-3.9

    SP-078-X-3.9

    產(chǎn)品名稱：SP-078-X-3.9
    所屬分類：ICT測試探針
    產(chǎn)品介紹（產(chǎn)品概述）：
    額定電流：3A
    額定電阻：50毫歐姆
    滿行程：4.0mm
    額定行程：2.60mm
    額定彈力：110gf@load 2.6mm(3.9oz)
    訂購熱線：400-183-6682

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探針為什么使用一段時(shí)間后電阻值增大？

探針為什么使用一段時(shí)間后電阻值增大？

探針使用一段時(shí)間后電阻值增大，主要有以下幾方面原因：1. 氧化- 當(dāng)探針與空氣或其他氧化劑接觸時(shí)，其表面可能會發(fā)生氧化反應(yīng)。例如，金屬探針在空氣中長時(shí)間放置，會與氧氣反應(yīng)生成金屬氧化物，這些氧化物的導(dǎo)電性通常比純金屬差，從而形成絕緣層或高電阻層，導(dǎo)致探針的電阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能較好的材料制成的探針，在長期使用過程中，也會逐漸吸附一定量的氧氣或其他氧化性物質(zhì)，進(jìn)而改變其表面的化學(xué)組成和電阻率。2. 磨損- 在頻繁使用或與其他物體接觸、摩擦的過程中，探針的表面會逐漸磨損。磨損會破壞探針表面的完整性，使導(dǎo)電通路受損或變窄，增加電流通過時(shí)的阻力，導(dǎo)致電阻值上升。比如，用于測試電路板上焊點(diǎn)的探針，在多次接觸焊點(diǎn)后，其尖端可能會磨損，從而使接觸電阻增大。- 長期的磨損還可能導(dǎo)致探針表面的粗糙度增加，進(jìn)一步影響

2025-03-11

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