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產(chǎn)品名稱:JTS-355*4550H 所屬分類:大電流測試針 產(chǎn)品簡介: 大電流針 測試探針 螺紋針 訂購熱線:400-183-6682 產(chǎn)品介紹(作用): 針桿:SK4鎳上鍍金 針管:黃銅鎳上鍍金 行程:7.7mm 彈簧:不銹鋼線 接觸電阻:<15毫歐姆 最大電流:12安培 彈力:480g
產(chǎn)品名稱:JTS-355-A 所屬分類:大電流測試針 產(chǎn)品簡介: 大電流針 測試探針 螺紋針 訂購熱線:400-183-6682 產(chǎn)品介紹(作用): 針桿:SK4鎳上鍍金 針管:黃銅鎳上鍍金 行程:7.7mm 彈簧:不銹鋼線 接觸電阻:<15毫歐姆 最大電流:12安培 彈力:480g
產(chǎn)品名稱:JTS-420-H 所屬分類:大電流測試針 產(chǎn)品簡介: 大電流針 訂購熱線:400-183-6682 產(chǎn)品介紹(作用): 針桿:SK4鎳上鍍金 針管:黃銅鎳上鍍金 行程:7.7mm 彈簧:不銹鋼線 接觸電阻:<12毫歐姆 最大電流:15安培 彈力:(650g)1000g
產(chǎn)品名稱:JTS-420-G 所屬分類:大電流測試針 產(chǎn)品簡介: 大電流針 測試探針 螺紋針 訂購熱線:400-183-6682 產(chǎn)品介紹(作用): 針桿:SK4鎳上鍍金 針管:黃銅鎳上鍍金 行程:7.7mm 彈簧:不銹鋼線 接觸電阻:<12毫歐姆 最大電流:15安培 彈力:(650g)1000g
產(chǎn)品名稱:JTS-420-A 所屬分類:大電流測試針 產(chǎn)品簡介: 大電流針 測試探針 螺紋針 訂購熱線:400-183-6682 產(chǎn)品介紹(作用): 針桿:SK4鎳上鍍金 針管:黃銅鎳上鍍金 行程:7.7mm 彈簧:不銹鋼線 接觸電阻:<12毫歐姆 最大電流:15安培 彈力:(650g)1000g
產(chǎn)品名稱:R189-4S 所屬分類:ICT測試探針 產(chǎn)品簡介:3.56mm套管、探針套管、彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針 產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段 聯(lián)系熱線:400-183-6682
產(chǎn)品名稱:P189-J 所屬分類:ICT測試探針 產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、直上圓頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針 產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段 聯(lián)系熱線:400-183-6682
產(chǎn)品名稱:P189-H 所屬分類:ICT測試探針 產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、梅花頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針 產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段 聯(lián)系熱線:400-183-6682
產(chǎn)品名稱:P189-G 所屬分類:ICT測試探針 產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、平頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針 產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段 聯(lián)系熱線:400-183-6682
產(chǎn)品名稱:P189-E 所屬分類:ICT測試探針 產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、圓錐頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針 產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段 聯(lián)系熱線:400-183-6682
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測試座主要通過雙頭探針將芯片與測試座點(diǎn)對(duì)點(diǎn)連接導(dǎo)通,操作方便,測試準(zhǔn)確率高,成本底部,ic設(shè)計(jì)規(guī)格書規(guī)定的功能和性能指標(biāo)是保證設(shè)備在惡劣環(huán)境條件下完全實(shí)現(xiàn)的主要目的。簡單來說ic測試座(ICscoket)的定義就是IC測試座對(duì)ic檢查生產(chǎn)制造缺陷和元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備,用于檢查器件的電性能和電氣連接。
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